HITACHI CMI760 便携式镀层测厚仪

双技术——涡流与微电阻。

表面与通孔探头。

实时统计显示。

可选脚踏开关。

CMl760® 标配 SRP-4 探头及用于解读测试数据的高级统计软件包。

本仪器扩展性强，兼具微电阻与涡流检测功能，可精准测量铜厚。

可选配件可测量通孔铜厚。