Hitachi X-Strata920 XRF分析仪镀层测厚仪PCB XRF镀层测厚
X-Stata920 配备四种基础配置,可测量任意形状的工件。
开槽样品仓配标准或宽型固定底座,可容纳小型工件及细长样品。
微型深孔样品仓可灵活测量较高的工件。
选配电动可编程载物台,可对多样品或单个组件的多个位置进行自动测量。