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HITACHI X-Strata920 X射线镀层测厚仪

Hitachi X-Strata920 XRF分析仪
镀层测厚仪
PCB XRF镀层测厚

实验室仪器
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产品规格

可测量任意形状的工件。

X-Stata920 配备四种基础配置,可测量任意形状的工件。

  • 开槽样品仓配标准或宽型固定底座,可容纳小型工件及细长样品。

  • 微型深孔样品仓可灵活测量较高的工件。

  • 选配电动可编程载物台,可对多样品或单个组件的多个位置进行自动测量。


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