FISCHER Dualscope 镀层测厚仪

– 操作简单，可校准和标准化
– 自动识别基材材质。
– 内置存储，可保存 10,000 组读数
– 显示最重要参数的统计数据
– 坚固外壳
– 掌上型设计
– 制造商证书

测量范围：
0 – 2000 µm NF/Fe
0 – 2000 Iso/NF