Hitachi CMI165 便携式表面铜厚仪

温度会影响铜样品的测量。CMI165® 可进行温度补偿，无论铜的温度如何，都能提供准确的过程检测。

温度补偿。

耐用设计。

专利 SRP-T1 可更换探头。

探头带照明，便于定位。

用户界面支持英文或简体中文。